Odblaski

Jakość obrazu:

Cena / Jakość:

Optyka:

Budowa:

89%

Spis treści

Fujifilm Fujinon XF 16 mm f/2.8 R WR - test obiektywu Specyfikacja Konstrukcja Ustawianie ostrości Rozdzielczość Rozmycie Aberracja chromatyczna Dystorsja Winietowanie Odblaski Podsumowanie Zdjęcia przykładowe

Soczewki Fujinona pokryto autorskimi powłokami Super Electron Beam Coating. Ich zadaniem jest niwelowanie występowania niepożądanych blików i flar podczas pracy w wymagającym oświetleniu oraz poprawa kontrastu, który w czasie fotografowania pod słońce może drastycznie zmaleć. O ile trudno przyczepić się do kontrastu, o tyle kolorystyczne artefakty świetlne - w niektórych sytuacjach - mogą stanowić już problem. Niezależnie czy słońce znajdzie się na skraju czy w centrum kadru lub też będzie wyłaniać się zza obiektu będziemy mieć do czynienia z zauważalnymi odbiciami światła w postaci smug i blików.

1/64s, f/22, ISO 200, ogniskowa: 16 mm (ekwiwalent dla pełnej klatki 24 mm)

1/134s, f/9, ISO 160, ogniskowa: 16 mm (ekwiwalent dla pełnej klatki 24 mm)

1/207s, f/8, ISO 160, ogniskowa: 16 mm (ekwiwalent dla pełnej klatki 24 mm)

1/52s, f/22, ISO 160, ogniskowa: 16 mm (ekwiwalent dla pełnej klatki 24 mm)

Spis treści

Tagi:

Fujifilm Fujifilm X obiektyw test obiektywu zdjęcia przykładowe

Michał Chrzanowski

Stały bywalec naszego laboratorium. Ciągle patrzy na świat przez różne ogniskowe oraz przemierza miasta i wioski obwieszony sprzętem fotograficznym. Uwielbia stylowe aparaty, a także eleganckie i funkcjonalne akcesoria. Ma słabość do monochromu i suwaków w programie Lightroom, po godzinach – do literatury faktu i muzyki country.

Zobacz artykuły autora

Komentarze