Leica 50mm f/2 APO-SUMMICRON-M ASPH - test

11. Winietowanie

Dość dużym problemem w przypadku obiektywów Leiki systemu M jest winietowanie. O ile w czasach analogowych odległość od filmu do tylnej soczewki, nie stanowiła tak dużego problemu, w przypadku matrycy, która nie jest idealnie płaska, dość silnie wpływa na poziom winietowania.

I właśnie winietowanie w przypadku obiektywu Leica 50mm f/2 Summicron-M ASPH jest największą wadą optyczną. Dla maksymalnego otworu względnego spadek ilości światła w rogach kadru wynosi, aż 63% co przekłada się na równowartość 1,5 EV.

Przymknięcie przysłony do f/2,8 poprawia rejestrowane wartości ale nadal daleko im do ideału. Poziom 53 % i spadek jasności brzegów kadru o 1 EV to nadal zły wynik według standardów DxO.

Skok przysłony o 1EV sprawia, że poziom winietowania obniża się jeszcze bardziej do 43% co przekłada się na spadek o 0,5 EV

Poziom winietowania stabilizuje się na około 30% po przymknięciu obiektywu do f/5,6.

Test został podzielony na następujące części:

1. Wstęp

2. Specyfikacja

3. Konstrukcja

4. Ustawianie ostrości

5. Stabilizacja

6. Rozdzielczość RAW

7. Rozdzielczość JPEG

8. Rozmycie

9. Aberracja chromatyczna

10. Dystorsja

11. Winietowanie

12. Odblaski

13. Podsumowanie

14. Zdjęcia do pobrania